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X射線晶體分析儀是研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器

更新時間:2017-04-25點擊次數:4041
 
  
  X射線晶體分析儀是研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器,主要應用于單晶定向、檢驗缺陷、測定點陣參數、測定殘余應力、研究板材、棒材的結構,研究未知物質的結構和單晶位錯等。
  
  X射線晶體分析儀主要特點:
  
  1.冷卻裝置:自帶制冷系統,無需外接水循環,并自動控制水溫及顯示X光管溫度。
  
  2.外射線計量不大于2.5μSv/h
  
  3.X光管:額定功率2KW(銅靶)
  
  4.定時:單片機自動定時,定時時間任意選擇。
  
  X射線晶體分析儀使用條件
  
  海拔不超過一千米,環境+10℃~40℃。海拔超過一千米時,環境溫度>40℃時,可按一般電氣標準降低使用功率。
  
  X射線晶體分析儀按下列程序進行:
  
  1.打開冷卻水,繼電器觸點K;即接通。
  
  2.接通外電源。
  
  3.按低壓按鈕SB3,交流接觸器KM1接通,即其觸點KM1—l,KM1-2接通。
  
  4.預熱3分鐘后按下高壓按鈕SB4。S表示管流零位開關及過負荷開關,正常情況下應接通,故交流接觸器KMn-l,KMn-2接通。
  
  5.根據X射線管的額定功率確定管壓和管流。調整管壓系通過調壓器改變高壓變壓器的一次電壓來實現。經過由二極管V1,V2及電容C1,C2組成的倍壓全波整流線路將高壓加到X射線管上。高壓值由電壓表讀出。通過燈絲電位器R可調節管流,其數值由電流表讀出。
  
  關閉的過程與起動的過程相反,即先將管流、管壓降至zui小值,再切斷高壓,切斷低壓電及外電源,經歷15min后關閉冷卻水。
  
  使用X射線儀時必須注意安全,防止人身的任何部位受到X射線的直接照射及散射,防止觸及高壓部件及線路,并使工作室有經常的良好通風。
  
  
服務熱線 18341531533
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